金融界2024年11月30日消息，国家知识产权局信息显示，成都华微电子科技股份有限公司申请一项名为“一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试方法及系统”的专利，公开号CN119044741A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本发明提供一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试方法，涉及集成电路测试技术领域，其主要步骤为：开机或切换测试脚本ATP文件；上位机对FPGA板卡内部状态机寄存器复位；上位机对测试脚本ATP文件解析，FPGA板卡接收Pattern并在本地存储器中展开；FPGA板卡根据Pattern对被测芯片设备进行测试，采集被测芯片设备的输出信号；FPGA板卡本地存储器中记录的采集条目传给上位机，上位机收到采集条目并写入输出文件；结束DFT测试。本发明还提供了一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试系统。本发明把测试模板文件的调试由产线机台设备转为低成本FPGA板卡，从而缩短了芯片研制到批量之间的转产时间。
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