壁仞集成电路申请功耗测试相关专利,节省占用空间

金融界 2024-11-30 18:04:18

金融界2024年11月30日消息,国家知识产权局信息显示,广州壁仞集成电路有限公司申请一项名为“功耗测试辅助电路、功耗测试系统、芯片和电子设备”的专利,公开号CN119044727A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本公开涉及一种功耗测试辅助电路、功耗测试系统、芯片和电子设备,该功耗测试辅助电路包括:测试辅助模块,用于针对至少两个被测模块中的功耗测试模块进行测试数据的发送和接收;多路选择模块,耦接于测试辅助模块和至少两个被测模块,用于导通功耗测试模块和测试辅助模块之间的测试数据传输路径。本公开用一个测试辅助模块配合多路选择模块辅助至少两个被测模块的功耗测试,可以节省占用空间,并可实现一个测试辅助模块对多个被测模块的功耗测试的复用。本公开为芯片中数量众多的模块提供了较为精确的功耗测量手段,为硅前阶段和硅后阶段之间的功耗校验提供了便利,并且本公开对于芯片内部SRAM单元也提供了较为精确的功耗测量辅助方案。

本文源自:金融界

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