金融界2024年12月5日消息，国家知识产权局信息显示，浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“晶粒失效比特分类方法、装置、存储介质及设备”的专利，公开号CN119071272A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，一种晶粒失效比特分类方法、装置、存储介质及设备。所述方法包括：获取晶粒上所有失效比特的物理地址信息；基于所述晶粒上所有失效比特的物理地址信息，建立对应的物理地址数组；确定当前失效比特的分类结果；所述确定当前失效比特的分类结果，包括：搜索所述物理地址数组，确定当前失效比特及周围相邻比特中存在失效比特的总数量；基于当前失效比特及周围相邻比特中存在失效比特的总数量，确定当前失效比特的分类结果。采用上述方案，可以提高晶粒失效比特的分类效率并提高分类准确性。
本文源自：金融界
