金融界2024年12月21日消息，国家知识产权局信息显示，深圳宏芯宇电子股份有限公司申请一项名为“闪存测试方法、装置、存储介质及计算机设备”的专利，公开号CN119152924A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，本申请实施例公开了一种闪存测试方法、装置、存储介质及计算机设备。该方法包括：通过存储控制器获取多个闪存颗粒各自对应的错误比特数和读取电压的偏移量数据，再由处理器获取每个闪存颗粒的错误比特数的归一化值和偏移量数据的归一化值，获取错误比特数和偏移量数据的权重值，根据错误比特数的归一化值、偏移量数据的归一化值以及权重值获取每个闪存颗粒的评估值，根据每个闪存颗粒的评估值而得到多个闪存颗粒的测试结果。本申请实施例提供的方案可以对闪存颗粒的错误比特数和读取电压的偏移量数据进行归一化加权平均，从而计算对应的评估值，并基于该分值进行分类，提升了闪存颗粒划分的准确性。
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