金融界2025年1月18日消息，国家知识产权局信息显示，美光科技公司申请一项名为“用于存储器系统评估的发热控制”的专利，公开号CN119314526A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，本申请案涉及用于半导体组件评估的发热控制。半导体组件可经受评估程序且可包含存储器阵列、温度传感器及电路系统以导致所述半导体组件执行一或多个操作。所述半导体组件可接收在评估模式中操作的指示且可经配置以根据第一评估模式操作。所述半导体组件可根据所述第一评估模式执行第一评估操作。所述半导体组件可经配置以响应于执行所述第一评估操作而基于温度满足温度阈值来在第二评估模式中操作。所述半导体组件可根据所述第二评估模式执行第二评估操作。
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