长光华芯申请半导体激光器材料的校验方法专利,能够提高校验效率

金融界 2025-01-18 19:13:29

金融界2025年1月18日消息,国家知识产权局信息显示,苏州长光华芯光电技术股份有限公司、苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司申请一项名为“半导体激光器材料的校验方法”的专利,公开号CN119315373A,申请日期为2024年12月。

专利摘要显示,本申请公开了半导体激光器材

料的校验方法,包括:

生长校验结构,校验

结构包括从下至上依

次设置的衬底层、第

一晶格匹配层、

InGaAs/InAlAs超晶格、第二晶格匹配层、InyAl1‑yAs层、第三晶

格匹配层和InxGa1‑xAs层;进行XRD表征,得到XRD衍射谱,对

InGaAs/InAlAs超晶格的组分和生长速率进行计算。本申请公

开的半导体激光器材料的校验方法,能够通过一次校验结构的

生长,同时实现InGaAs和InAlAs材料组分和生长速率的校验,

缩减了校验生长的次数,提高了校验效率,降低校验成本,保障

生产质量;能够排除不同次生长之间存在的生长速率的波动,

提升校验的一致性,提升校验精确度。

天眼查资料显示,苏州长光华芯光电技术股份有限公司,成立于2012年,位于苏州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本17627.9943万人民币,实缴资本9663.4952万人民币。通过天眼查大数据分析,苏州长光华芯光电技术股份有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目65次,知识产权方面有商标信息14条,专利信息246条,此外企业还拥有行政许可15个。

本文源自:金融界

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