长川科技申请芯片测试控制相关专利,提高测试效率

金融界 2025-01-24 13:17:36

金融界2025年1月24日消息,国家知识产权局信息显示,杭州长川科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备”的专利,公开号CN119335358A,申请日期为2024年9月。

专利摘要显示,本公开提供了一种芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备,通过在芯片测试系统下位机的处理器上设置第一通信串口以及在控制器上设置第二通信串口,当处理器接收到上位机发送的重定向指令时,通过第一通信串口向控制器发送串口桥接请求,处理器与控制器执行桥接程序以使处理器与控制器通过第一通信串口和第二通信串口桥接,上位机与处理器通过网络通信连接,使得上位机能够通过处理器访问控制器,实现了上位机与控制器之间的间接通信,无需通过外部接线手动连接上位机和控制器,操作简单,可以提高测试效率,并且能够节省接线工具等设备资源。

天眼查资料显示,杭州长川科技股份有限公司,成立于2008年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本60432.8728万人民币。通过天眼查大数据分析,杭州长川科技股份有限公司共对外投资了15家企业,参与招投标项目106次,知识产权方面有商标信息14条,专利信息956条,此外企业还拥有行政许可72个。

本文源自:金融界

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