桂林光隆集成科技申请芯片镀膜均匀性控制专利,有效减少膜厚均匀性偏差

金融界 2025-01-30 11:17:50

金融界2025年1月30日消息,国家知识产权局信息显示,桂林光隆集成科技有限公司申请一项名为“种芯片镀膜的均匀性控制系统及方法”的专利,公开号CN119372615A,申请日期为2024年10月。

专利摘要显示,本发明涉及芯片镀膜技术领域,具体涉及一种芯片镀膜的均匀性控制系统及方法,包括在线调整可调节磁铁的特性,并在真空下对芯片进行镀膜;基于芯片镀膜厚度均匀性验证膜厚均匀性是否发生改变;检测可调节磁铁辅助阳极是否放电,得到检测结果,并基于验证结果提高靶材溅射位置质量,该方法通过调整可调节磁铁的磁场强度,在一定范围内增强可以提高溅射速率,可以满足膜厚均匀性差异在1%左右,可以有效减少靶材溅射镀膜的膜厚均匀性偏差,提高了膜厚的均匀性,解决现有增加挡板调节芯片膜厚均匀性的方法,存在靶材消耗功率增加,成本上升的问题。

天眼查资料显示,桂林光隆集成科技有限公司,成立于2018年,位于桂林市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币,实缴资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析,桂林光隆集成科技有限公司参与招投标项目27次,专利信息35条,此外企业还拥有行政许可4个。

本文源自:金融界

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