半导体材料作为半导体产业的基石，其特性和质量直接决定着半导体器件的性能和可靠性。同时，半导体器件的不断演进也对材料的分析检测技术提出了新的挑战。在这样的背景下，积极探索和应用半导体材料与器件分析检测新技术显得尤为重要。

基于此，仪器信息网联合电子工业出版社、我要测网、北京普天德胜科技孵化器有限公司于2024年10月23-25日举办第五届“半导体材料与器件分析检测新技术”网络研讨会，围绕宽禁带半导体材料与器件，材料、器件的缺陷检测技术、失效分析和可靠性测试等热点分析检测技术，为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。

第五届半导体材料与器件分析检测新技术网络会议

日期

报告题目

报告嘉宾

10月23日

专场一：第三代半导体材料及分析检测

宽禁带半导体/二维半导体异质集成及其光电探测应用

吴峰（华中科技大学 副研究员）

欧陆埃文思上海检测服务简介

张卫民（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 市场销售经理）

GDMS, ICP及IGA在高纯材料分析领域方面的应用

王珍（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 高纯材料分析经理）

氮化物半导体材料缺陷表征与缺陷调控研究

杨涵（北京大学 博士研究生）

第三代半导体材料元素分析解决方案及前沿探讨

应钰（安捷伦原子光谱应用工程师）

二维层状半导体材料异（同）质结的光学特性研究

杨明明（河北农业大学 副教授）

午休

氮化物半导体材料高分辨结构和物性研究

王涛（北京大学 高级工程师）

NexION系列ICPMS在半导体材料元素分析中的解决方案

徐俊俊（珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司 资深工程师）

二次离子质谱在SiC、GaN及GaAs等材料分析测试中的应用

姜自旺（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 SIMS 经理）

应力场对二维材料的调制作用

汪彦龙（中国科学院大连化学物理研究所 副研究员）

10月24日上午

专场二：宽禁带半导体器件研究与应用

元器件寿命设计与评价

张乔木（工业和信息化部电子第五研究所 工程师）

待定

席善斌 国家半导体器件质量监督检验中心 副主任

氮化镓HEMT器件制造与新应用

黄火林（大连理工大学 教授）

10月24日下午

专场三：缺陷检测新技术

半导体纳米材料及器件结构-性能关系的定量透射电子显微学研究

李露颖（华中科技大学，武汉光电国家研究中心 教授）

XPS技术及其在半导体材料中的应用

吴金齐（岛津企业管理（中国）有限公司 应用工程师）

半导体薄膜结构与器件的X射线分析

程国峰（中科院上海硅酸盐所 教授）

新型半导体材料缺陷特性表征技术及其应用研究

林乾乾（武汉大学 教授）

10月25日上午

专场四：可靠性及失效分析技术

电子产品寿命保障技术

刘树强（工信部电子第五研究所 高级工程师）

半导体元器件失效分析技术

江海燕（北京软件产品质量检测检验中心 项目经理）

半导体器件互连可靠性设计与评价

卢桃（工信部电子第五研究所 高级工程师）