托木斯克国立大学 “多光谱量子内窥镜微电子学 ”青年实验室的员工开发出了灵敏度更高的新型探测器。这些探测器设计用于对纤维聚合物复合材料等难以诊断的材料制成的产品进行无损检测。纤维聚合物复合材料可用于对材料的强度、刚度和耐磨性要求较高的领域，如机械工程、风能、石油工业和其他领域。- 复合材料的特点是基体材料的有效原子序数相对较小，这就对用于结构完整性无损控制的 X 射线探测器的灵敏度提出了更高的要求。多光谱探测器可以对低对比度物体的结构和相组成进行评估，从而提高俄罗斯企业的产品控制质量。该青年实验室是在 “科学与大学 ”国家项目的支持下在托木斯克国立大学建立的。作为国家 “科学与大学 ”项目支持的研究的一部分，托木斯克国立大学的科学家们开发出了 X 射线探测器，它甚至能够看到其他方法无法诊断的最小缺陷。这些探测器的基础是由砷化镓和铬补偿（HR GaAs:Cr）制成的多元素传感器。与此同时，还开发了构建数字图像的算法，并在托木斯克国立大学微电子先进技术中心的基础上组装了探测器的实验室样品。帕维尔-科斯马乔夫解释说："新型探测器的功能特点是能够在基质探测器的每个单元格中记录单个粒子和量子，并根据原子序数区分材料。- 该方法已在聚合物复合材料上进行了测试，并证明了其效率。它可以通过选择其他模式进行调整，以适用于不同的材料。新型探测器具有很强的抗辐射能力，因此可用于各种领域。图像处理算法在探测器的工作中发挥着特殊作用。科学家们创建了一套计算机程序，并为此获得了四项专利。因此，托木斯克国立大学的研究人员创造了一种对不同材料制成的物体进行无损检测的通用工具。迄今为止，俄罗斯国内尚无此类研发成果。托木斯克国立大学科学家的发展将有助于国内工业的发展，并确保国家的技术主权。
