透射电子显微镜(TEM)是一种利用电子束穿透超薄样品以获取高分辨率图像的技术,它在材料科学、生物学和物理学等多个学科领域
AEC:汽车电子行业的质量联盟AEC(Automotive Electronics Council)——即汽车电子委员会
解析成分分析技术成分分析技术涵盖了多种科学方法,用于精确地鉴定和测量产品或样本中的组成成分,包括它们的定性与定量分析。1
什么是三防测试?在电子产品的设计和制造过程中,确保其能够在各种恶劣环境下稳定运行是至关重要的。三防试验,包括湿热试验、霉
透射电子显微镜(TEM)概述透射电子显微镜(TEM)是材料科学、纳米技术等领域中不可或缺的研究工具。对于新接触TEM的科
LED封装胶水的关键作用在LED产品的制造过程中,LED封装胶水发挥着核心作用,它不仅关系到光线的传输和热量的释放,还负
在失效分析领域,X射线检测和超声波扫描显微镜(C-SAM)是两种重要的无损检测技术,它们各自具有独特的特点和应用场景。失
什么是静电放电(ESD)lectro-Static Discharge,是指在特定环境下,由于静电的积累到达一定程度后,
离子污染物的定义与影响附着在产品表层、未经过彻底清洁处理的残留物被叫做离子污染物。当这些残留物暴露于潮湿环境时,它们会转
氩离子抛光技术:页岩样品制备页岩,这种由高岭石、水云母等黏土矿物经脱水胶结形成的沉积岩,以其层状结构而著称。按成分差异,
透射电子显微镜(TEM)作为电子显微学中的重要设备,与扫描电子显微镜(SEM)并列,构成了现代电子显微学的两大支柱。TE
LED光源的光学特性解析照明技术经历了从早期的白炽灯、荧光灯、金卤灯的演变,到现在LED技术的蓬勃发展,照明行业一直在不
在石油地质学领域,扫描电子显微镜(SEM)扮演着核心角色,它被广泛用于分析沉积岩中的有机质来源、探究粘土矿物特性、观察钙
CDM(Charged Device Model)作为一种独特的ESD(Electrostatic Discharge)
透射电子显微镜(TEM)样品制备是现代材料科学研究的重要环节。透射电子显微镜(TEM)样品制备1. 粉末样品:适用于粉末
在电子技术飞速进步的今天,电子产品正变得越来越精密和复杂。电路板上的元件排布越来越密集,走线设计也越来越精细,这导致线路
在微电子行业重要性在微电子行业中,FIB-SEM双束系统的应用至关重要,它不仅涵盖了芯片样品的精密切割,还包括对工艺缺陷
AEC变频振动和机械冲击测试在汽车电子行业中,AEC变频振动测试和机械冲击测试是确保产品在动态环境中稳定性和耐用性的关键
卤素的基本属性在化学的广阔领域中,卤素构成了一个别具一格的元素类别,其名称来源于希腊语中的“halos”(盐)和“gen
电子背散射衍射(EBSD)技术概述电子背散射衍射(EBSD)技术是一种在材料科学领域中用于表征晶体结构的重要方法。它通过
签名:专注半导体氮化镓和碳化硅芯片和器件失效分析的检测机