北京富光联创科技取得芯片测试装置专利,防止在对芯片测试加工时芯片发生位移

金融界 2024-11-14 18:01:27

金融界2024年11月14日消息,国家知识产权局信息显示,北京富光联创科技有限公司取得一项名为“一种芯片测试装置”的专利,授权公告号CN221993589U,申请日期为2024年1月。

专利摘要显示,本实用新型公开了一种芯片测试装置,属于芯片测试技术领域,针对了对芯片测试时易出现位移以及芯片放置以及拿取不便的问题,包括工作台,还包括一框架,框架固定于工作台顶端侧壁,框架一侧侧壁固定有测试器本体,工作台一侧侧壁固定有两个呈对称分布的承载架,框架位于承载架正上方,承载架一侧设置有定位组件;本实用新型通过定位组件的设置,能够满足对不同种测试工作前的定位工作需求,从而防止在对芯片测试加工时芯片发生位移,确保芯片处于相对稳定的状态下进行测试加工,而且能够满足于对不同规格的芯片测试加工需求,适用范围较广,结构简单可靠性高。

本文源自:金融界

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