金融界2024年11月30日消息，国家知识产权局信息显示，上海寒武纪信息科技有限公司申请一项名为“芯片性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质”的专利，公开号CN119044740A，申请日期为2023年5月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片性能测试技术领域，公开了芯片性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质，芯片性能测试方法包括：生成第一激励数据和第二激励数据；其中，第一激励数据和第二激励数据用于描述芯片的同一性能；基于第一激励数据进行仿真，以得到当前仿真结果；以及对第二激励数据进行处理，以得到当前理论结果；将当前仿真结果与当前理论结果进行比较，以得到比较结果根据比较结果确定芯片性能测试是否通过本发明不仅能够缩短芯片性能测试时间，而且还能够提高芯片性能测试结果的准确性。
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