贵州振华风光申请基于FPGA的存储器芯片测试相关专利,更快进行存储器芯片测试验证

金融界 2024-12-02 14:04:09

金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,贵州振华风光半导体股份有限公司申请一项名为“一种基于FPGA的存储器芯片测试方法及测试系统”的专利,公开号CN119049530A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,根据本发明的实

施例提供了一种基于FPGA的

存储器芯片测试方法及测试

系统。所述存储器芯片测试

方法包括以下步骤:S1、由上

位机获取测试功能指令,并转发至FPGA主控模块;S2、由FPGA主

控模块基于封装于其中的待测存储器芯片规范对所接收的测

试功能指令进行解析、匹配,以得到与测试功能指令对应的操

作指令;S3、根据所得到的操作指令执行对待测存储器芯片的

操作,并且将操作的结果经由FPGA主控模块返回到上位机。通

过采用了FPGA内封装待测存储器芯片规范来进行解析、匹配,

能够更快进行存储器芯片测试验证;此外,更容易转换到对其

它类型存储器芯片的验证;另外,通过采用了上位机进行测试

结果显示,展示更直观,其测试架构更简单,并且更节省时间。

本文源自:金融界

0 阅读:0

金融界

简介:财经媒体、互联网金融、财富管理