金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,贵州振华风光半导体股份有限公司申请一项名为“一种基于FPGA的存储器芯片测试方法及测试系统”的专利,公开号CN119049530A,申请日期为2024年7月。
专利摘要显示,根据本发明的实
施例提供了一种基于FPGA的
存储器芯片测试方法及测试
系统。所述存储器芯片测试
方法包括以下步骤:S1、由上
位机获取测试功能指令,并转发至FPGA主控模块;S2、由FPGA主
控模块基于封装于其中的待测存储器芯片规范对所接收的测
试功能指令进行解析、匹配,以得到与测试功能指令对应的操
作指令;S3、根据所得到的操作指令执行对待测存储器芯片的
操作,并且将操作的结果经由FPGA主控模块返回到上位机。通
过采用了FPGA内封装待测存储器芯片规范来进行解析、匹配,
能够更快进行存储器芯片测试验证;此外,更容易转换到对其
它类型存储器芯片的验证;另外,通过采用了上位机进行测试
结果显示,展示更直观,其测试架构更简单,并且更节省时间。
本文源自:金融界