金融界2024年12月21日消息，国家知识产权局信息显示，湖南奥创普科技有限公司申请一项名为“一种激光芯片脏污和/或金属缺陷的多阶段自动检测方法、系统、设备以及介质”的专利，公开号CN119151900A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明涉及一种激光芯片脏污和/或金属缺陷的多阶段自动检测方法、系统、设备以及介质，其中，方法包括：对芯片图像数据进行预处理；利用改进的Yolov7网络对预处理后的芯片图像执行粗定位，并在粗定位过程中确定和自适应地调整尺寸阈值；若检测目标的尺寸大于尺寸阈值，则直接输出粗定位阶段的检测结果；若检测目标的尺寸不大于尺寸阈值，则进入第二阶段处理，通过选用MobileNet分类网络进行细分类以获得细分类阶段的检测结果；根据粗定位和细分类两个阶段中的检测结果，输出最终判断结果。本发明充分融合了各阶段的处理优势，不仅解决了脏污与金属缺陷两类微小目标的检测与分类难题，还为激光芯片的质量控制提供了有力支持。
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