AEC:汽车电子行业的质量联盟
AEC(Automotive Electronics Council)——即汽车电子委员会,是一个由美国三大汽车公司Chrysler、Ford和GM共同创立的国际性组织,成立于1994年。该组织集合了全球的汽车生产商、汽车电子组件制造商以及电子元件供应商,共同目标是提高汽车电子产品的质量与可靠性。
AEC-Q100标准是由AEC委员会开发的一项针对汽车用集成电路(IC)的测试和认证程序,该程序基于失效机制,为车用IC芯片提供了一套全面的可靠性测试和认证标准。AEC-Q100标准是芯片产品进入汽车行业的基准,自1995年首次发布后,经过多轮修订,目前实施的是2014年发布的H版标准。
标准涵盖的产品类型
AEC-Q100标准覆盖了广泛的单颗IC产品,包括但不限于以下类别:
微控制器(MCU)
微处理器(MPU)
存储器芯片
计算芯片
安全芯片
LED驱动芯片
电源管理芯片
运算放大器
比较器
传感器模拟芯片
通信芯片
测试类别及项目
AEC-Q100标准规范了7大类别共41项测试
1. 群组A - 加速环境应力测试:包括压力 cooker(PC)、高温高湿偏置(THB)、高加速应力(HAST)、加速条件(AC)、超高温存储(UHST)、温度冲击(TH)、温度循环(TC)、功率循环(PTC)、高温存储寿命(HTSL)等6项测试。
2. 群组B - 加速生命周期模拟测试:包括高温操作寿命(HTOL)、早期寿命故障率(ELFR)、动态热应力(EDR)等3项测试。
3. 群组C - 封装组装完整性测试:包括焊球剪切(WBS)、焊球拉力(WBP)、侧向拆分(SD)、劈裂(PD)、拉伸断裂(SBS)、漏电流(LI)等6项测试。
4. 群组D - 芯片制造可靠性测试:包括电迁移(EM)、时间相关介质击穿(TDDB)、高电流注入(HCI)、负偏温不稳定性(NBTI)、闩锁(SM)等5项测试。
5. 群组E - 电性验证测试:包括测试(TEST)、最终检测(FG)、人体模型(HBM/MM)、电荷破坏性(CDM)、漏电流(LU)、电迁移(ED)、特性(CHAR)、电磁兼容性(EMC)、静电(SC)、系统效应(SER)等11项测试。
6. 群组F - 缺陷筛选测试:包括参数测试(PAT)、扫描电子显微镜(SBA)等2项测试。
7. 群组G - 腔体封装完整性测试:包括模塑应力(MS)、振动疲劳(VFV)、裂纹声发射(CA)、玻璃流动(GFL)、跌落(DROP)、寿命(LT)、干燥(DS)、内部湿蒸汽(IWV)等8项测试。
测试流程与执行
AEC-Q100的测试流程是一套严格的程序,从样品的准备到测试的执行,再到结果的分析,每一步都有明确的指导和标准。每个测试项目都规定了具体的样品数量、测试批次、接受标准和测试方法。