AEC-Q104认证是汽车电子行业中对多芯片模块（MCM）可靠性的严格测试标准，它是AEC-Q系列规范的组成部分，专门设计来满足汽车行业对电子元件的高可靠性要求。随着汽车电子系统的日益复杂化，MCM的可靠性变得至关重要，因为它们通常包含多个裸芯片和电子元件，这些组件必须在汽车恶劣的工作环境中保持稳定运行。

AEC-Q104认证包括了一系列详尽的测试项目，这些项目被分为A到H八个系列，旨在模拟MCM在汽车应用中可能遇到的各种环境条件。测试项目涵盖了温度循环、湿热测试、机械冲击、热冲击（Thermal Shock, TS）、离子迁移（Ion Migration, VISM）等，确保MCM能够在极端温度、湿度、机械应力等条件下正常工作。AEC-Q104特别强调了测试的顺序性，例如，必须先完成高温操作寿命（High Temp Operating Life, HTOL）测试，然后才能进行热冲击测试，这一规定显著增加了通过认证的难度。

对于那些已经通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200认证的组件，如果它们被用于MCM中，那么该MCM只需通过AEC-Q104H系列中的七项测试。这七项测试包括四项可靠性测试：温度循环（Thermal Cycle Test, TCT）、跌落测试（Drop Test）、低温存储寿命（Low Temperature Storage Life, LTSL）、启动和温度步进（Start Up & Temperature Steps, STEP），以及三项失效类检验：X射线检测（X-Ray）、声学显微镜检测（Acoustic Microscopy, AM）、破坏性物理分析（Destructive Physical, DPA）。如果MCM中的组件未通过上述认证，则需要进行更全面的测试，可能包括A到H系列的49个测试项目。

AEC-Q104认证的重要性在于它确保了MCM在汽车环境中的可靠性，这对于汽车的安全和性能至关重要。汽车在运行过程中会遇到各种极端环境，如高温、低温、湿度、振动等，这些都可能影响电子组件的性能。因此，通过AEC-Q104认证的MCM可以确保即使在这些恶劣条件下也能保持其性能和可靠性。